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ANHUI CRYSTRO CRYSTAL MATERIALS Co., Ltd.
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Niedriger Mikrowellen-Verlust-optisches Substrat-Lanthan   Aluminat   Laalo3   Ziel des Quadrat-<100>

China ANHUI CRYSTRO CRYSTAL MATERIALS Co., Ltd. zertifizierungen
China ANHUI CRYSTRO CRYSTAL MATERIALS Co., Ltd. zertifizierungen
Die schnellen guten Lieferungs- und Qualitätsblicke, prüfen bald. Danke!

—— Jhon Klus

Ein stabiler Lieferant von uns, sehr Berufsteam.

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Niedriger Mikrowellen-Verlust-optisches Substrat-Lanthan   Aluminat   Laalo3   Ziel des Quadrat-<100>

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Großes Bild :  Niedriger Mikrowellen-Verlust-optisches Substrat-Lanthan   Aluminat   Laalo3   Ziel des Quadrat-<100>

Produktdetails:
Herkunftsort: China
Markenname: Crystro
Zertifizierung: SGS
Modellnummer: CR20200108-7
Zahlung und Versand AGB:
Min Bestellmenge: 1PC
Preis: Negotiable
Verpackung Informationen: Kartonverpackung
Lieferzeit: 3-4 Wochen
Zahlungsbedingungen: T/T, Western Union, Moneygram, Paypal
Versorgungsmaterial-Fähigkeit: 1000pcs/month
Ausführliche Produkt-Beschreibung
Polnisch: doppelte Seite poliert Größe: 3" x1mm
Wachstumsmethode: Czochralski Oberflächenende: < 10A="">
Form: Runde, Quadrat, Ebenen Orientierung: <100>,<111>
Dichte: 6,52 g/cm3 Schmelzpunkt: OC 2080
Markieren:

Elemente des einzelnen Kristalles

,

Substrat laalo3

Substrat- <100> Lanthan   Aluminat   Laalo3   Ziel des Quadrat-LaAlO3 optisches

 

LaAlO3 ist ein supraleitendes einzelnes Kristallsubstrat der hohen Temperatur. Es ist ein gutes Substratmaterial für Epitaxie von supraleitenden Dünnfilmen der hohen Temperatur und von riesigen magnetischen Dünnfilmen. Seine dielektrischen Eigenschaften sind für dämpfungsärme Mikrowelle und dielektrische Resonanzanwendungen passend.

 

Anwendungen:

 

Hochtemperatur-Supraleiter-, magnetische und Eisen-elektrischeDünnfilme

Dämpfungsärme Mikrowellenanwendungen

Dielektrische Resonanzanwendungen

 

Eigenschaften:

 

Gute Gitteranpassung an die meisten Materialien mit Perowskitstruktur

Niedrige Dielektrizitätskonstante

Niedriger Mikrowellenverlust

 

Haupteigenschaften:

 

 
  Typische physikalische Eigenschaften
Crystal Structure Kubik-Ångström a=3.79
Wachstums-Methode Czochralski
Dichte 6,52 g/cm3
Schmelzpunkt OC 2080
Thermische Expansion 10 (x10-6/OC)
Dielektrizitätskonstante | 25
Verlust-Tangente bei 10 Gigahertz ~3x10-4 @ 300K, ~0,6 x10-4 @77K
Farbe und Auftritt Transparent zu Brown basierte auf Vergütungsbedingung. Sichtbare Zwillinge auf Poliersubstrat
Chemische Stabilität Unlöslich in den Mineralsäuren bei 25 OC und Lösliches H3PO3 im at> 150 OC


 

Kontaktdaten
ANHUI CRYSTRO CRYSTAL MATERIALS Co., Ltd.

Ansprechpartner: roy_luo

Telefon: +8613335516062

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